Abstract:
Мақалада екі толқынды рентгендік рефлектометрдің тəжірибелік нəтижелерін көп қабыршақты
құрылым параметрлерін анықтау дəлдігіне алдын ала түрлендіру əсері қарастырылды. Нəтижелерді
компьютерлік өңдеу үшін CUDA технологиясын қолданудың эффективтілігі зерттелді. Сондай-ақ екі
толқынды рентгендік рефлектометр əдісін үлгілеу бойынша есептеу жүргізудің эффективтілігін
арттыру үшін CUDA технологиясын қолдану ұсынылды.
A novel algorithm of experimental data set transformation is presented in respect of double-wave X-ray reflectometry.
This algorithm is realized with computer unified device architecture (CUDA). An impact of concerned
algorithm application on accuracy of multi-layer structures parameters and efficiency of respective parameters
computation are studied. Effective way of multi-layer structure parameters calculations for doublewave
X-ray reflectometry models with the help of CUDA based algorithms is declared
